显示驱动芯片晶圆探测自动测试设备是一款集成了高性能独立测试通道的CP测试机，用于对Driver IC的电性能测试，包括DC参数测试、AC参数测试以及Function测试。设备测试效率高，具备并行测试能力，可同时对多个DUT并行测试，且每个测试通道可独立处理测试需求；适用芯片范围广，具有可扩展的平台架构，通过灵活配置可实现一机多用，满足多种不同类型芯片的测试需求。测试准确率高，配置有PPMU、时序校准、DC测量校准等功能模块，可实现精准pattern和高精度参数测量。配置DFT向量测试功能，能满足DFT测试需求。上述功能特点，使其具备更广的测试覆盖率、更高效的测试效率和更精准的测试结果，可帮助用户提升芯片良率，降低综合测试成本。