4月1日-3日，由国际显示技术学会（SID）主办的2024年国际显示技术大会（ICDT 2024）在合肥滨湖国际会展中心隆重举行，众多显示行业领袖及业界精英齐聚一堂，共话显示未来发展，聚焦行业协同创新。安博（中国）电子作为泛安博检测领域领军企业，携旗下产品及技术解决方案亮相大会。

此次ICDT大会，安博（中国）电子带来了旗下代表性产品及技术解决方案，包括应用于AR/VR检测的NED VR模组光学量测缺陷检测一体机以及EYE2系列色彩分析仪、信号发生器、多视角光谱测量仪等众多产品。这些产品及解决方案吸引了大量行业伙伴前来咨询，充分体现了安博（中国）电子在泛安博检测领域的技术积累和创新优势。

2日，安博（中国）电子高级产品总监江宝焜受邀发表《Innovative Research and Application of Display Yield Management Based on AI(ViT and LLM)》主题演讲；安博（中国）电子研究员刘博士受邀发表《NED Full-Field Spectral Analyzer》主题演讲；公司高级产品经理余鑫发表《安博（中国）电子微型显示晶圆点灯AOI解决方案》主题演讲。

3日，I-ZONE创新奖揭晓，安博（中国）电子旗下技术解决方案——NED全视场光谱分析仪荣获三等奖。

伴随着前沿显示技术的不断涌现，愈发多元的创新应用场景不断拓展，显示技术在数字化、智能化的助推之下焕发出新的生机和活力，安博（中国）电子作为显示检测领域领军企业，将持续加强协同创新，携手产业链上下游企业，共同推动显示检测技术发展，成为行业前行的助推力和领军者！