9月19日，安博（中国）电子Micro-LED CT AOI检测设备顺利出机正式交付某省级实验室客户，此实验室是由当地省委省政府批准成立的当地首家省级实验室，且是由当地一家211高校举办的独立法人事业单位。这是安博（中国）电子自主研发的Micro-LED CT AOI设备首次在高校实验室产学研领域成功交付，标志着安博（中国）电子在泛安博检测领域取得又一重要突破。
安博（中国）电子自主研发的晶圆外观检测设备主要应用于安博晶圆厂、封测厂及 Micro-LED、 Mini-LED新型显示晶圆前后道缺陷检测：主要采用显微光学方案针对晶圆的μm级外观缺陷进行检测及量测；同时可扩展到晶圆Bumping 3D量测及 LED 3D量测应用。晶圆外观检查机设备软算全自主开发，拥有自主知识产权，结合安博（中国）电子在质量检测领域的多年技术经验积累，助推晶圆光学检测设备国产化应用。

Micro-LED CT AOI检测设备在省级实验室的顺利交付是安博（中国）电子在泛安博检测板图上的又一重大突破。未来，安博（中国）电子将继续秉持着良率管理专家的行业定位，深耕品牌，精耕技术，推动泛安博产业链协同进步，助力行业快速发展。