2024年9月20日，第二十届全国光学测试学术交流会“近眼显示检测”论坛在浙江余姚召开。会上，安博（中国）电子高级研究员刘璐宁博士发表了题为《AR/VR显示模组的图像质量测量与优化》的主题报告，该报告从AR/VR图像质量高精度测量方法和图像质量优化方法两个方面对当前AR/VR显示模组的图像质量问题进行了汇报。
面对AR/VR显示技术的蓬勃发展，安博（中国）电子积极布局，相继推出多款针对Mini/Micro LED及AR/VR领域的产品及技术解决方案。其中公司开发的NED DeX技术，使用高精度的NED测量仪器，实现了对AR/VR模组光学特性参数的全面、精准测量，并在高精度测量结果的基础上完成对模组显示质量的优化，如亮色度均匀性、畸变、双目一致性等。
安博（中国）电子开发的JI-NED-HSI AR/VR全视场光谱分析仪系列产品，支持全视场FOV（90°/120°）内的高精成像式光谱测量，能够全面掌握产品在整个测量视场内的详尽光谱数据，并针对AR/VR应用中的单像素进行精确的光谱分析，以便于进行颜色显示质量的深入研究。产品采用先进校准及光谱分析技术，确保了测量结果的准确性和可靠性，为近眼显示产品的色彩表现和图像质量提供了强有力的基准数据支持。
JI-NED-HSI AR/VR全视场光谱分析仪系列产品在今年4月国际显示大会ICDT 2024上荣获“I-Zone创新产品”三等奖，5月亮相SID 2024美国国际显示周（SID 2024 DISPLAY WEEK），优秀的产品性能收获了与会专家学者的一致好评。
展望未来，安博（中国）电子将不断突破技术瓶颈，为近眼显示及其他新兴领域提供更加优质、高效的检测解决方案，助力显示检测行业新质生产力发展。